數字集成電路驗證從入門到精通

第1章  數字集成電路驗證技術的發(fā)展     001
1.1  數字集成電路驗證的概念及地位     001
1.1.1　驗證的概念         001
1.1.2　驗證在設計流程中的地位         002
1.2  功能驗證     003
1.2.1　功能驗證過程     003
1.2.2　功能驗證相關技術     004
1.2.3　功能驗證相關語言     006
1.2.4　功能驗證相關方法     007
1.2.5　功能驗證相關研究熱點     008
1.3  驗證的歷史、現在與將來     009
習題       011
第2章  數字集成電路驗證基礎     012
2.1  集成電路芯片開發(fā)流程     012
2.1.1　系統(tǒng)設計     012
2.1.2　功能設計     013
2.1.3　功能驗證     016
2.1.4　DFT設計/邏輯綜合     016
2.1.5　版圖設計驗證     017
2.1.6　時序驗證     017
2.1.7　芯片試做與芯片測試     017
2.2  驗證的概念和分類     018
2.3  驗證與設計、測試的區(qū)別     019
2.4  驗證環(huán)境的基本結構     019
2.4.1　驗證環(huán)境的概念     019
2.4.2　驗證環(huán)境的結構框圖     019
2.4.3　簡單驗證環(huán)境的書寫結構     021
2.5  驗證流程     023
習題       024
第3章  數字集成電路驗證的常用Verilog編程語法     025
3.1  驗證常用Verilog語法     026
3.1.1　assign語法     026
3.1.2　always語法     027
3.1.3　initial、`timescale、#語法     027
3.1.4　`define、parameter語法     029
3.1.5　`include語法     031
3.1.6　wait、@語法     032
3.1.7　for、repeat、while、forever語法     034
3.1.8　fork…join語法     035
3.1.9　task語法     037
3.1.10　event語法     039
3.2  驗證常用Verilog系統(tǒng)函數     040
3.2.1　$display、$write、$time、$finish系統(tǒng)函數     040
3.2.2　文件操作系統(tǒng)函數     041
3.2.3　$random系統(tǒng)函數     046
習題       047
第4章  被測電路功能點Case抽取     048
4.1  Case抽取原則     049
4.2  Case表的制作方法     050
習題       051
第5章  斷言     052
5.1  斷言的基本概念和應用     053
5.2  斷言的SVA語法結構     053
5.2.1　SVA基本結構     053
5.2.2　SVA與設計的連接     054
5.3  斷言中常用的SVA語法     056
5.3.1　SVA基本語法     056
5.3.2　系統(tǒng)函數     058
5.3.3　覆蓋率屬性     059
5.3.4　斷言驗證庫     059
習題       060
第6章  帶有約束條件的隨機激勵     061
6.1  隨機激勵的概念和應用     061
6.2  隨機激勵的約束條件     062
習題       066
第7章  覆蓋率     067
7.1  覆蓋率的概念和應用     067
7.2  覆蓋率的種類     068
7.2.1　代碼覆蓋率     068
7.2.2　斷言覆蓋率     070
7.2.3　功能覆蓋率     070
7.3  代碼覆蓋率的實現方法     071
7.3.1　Modelsim仿真工具運行代碼覆蓋率     071
7.3.2　VCS仿真工具運行代碼覆蓋率     073
7.4  功能覆蓋率的實現方法     074
7.4.1　通過Verilog編程實現功能覆蓋率     074
7.4.2　通過SystemVerilog編程實現功能覆蓋率     077
習題       082
第8章  結果自動對比     083
8.1  結果自動對比的概念和應用     083
8.2  期待值模型的構建方法     084
8.3  結果自動對比的實現     084
8.3.1　構造期待值模型的方式     085
8.3.2　讀取期待值數據的方式     087
8.3.3　將被測電路輸出打印結果文件與期待值結果文件直接比較的方式     089
習題       090
第9章  UVM驗證     091
9.1  事務級驗證的概念     092
9.2  UVM驗證環(huán)境的特點和結構     092
9.2.1　UVM驗證平臺的結構     092
9.2.2　被測電路     093
9.2.3　interface     094
9.2.4　driver     094
9.2.5　monitor     096
9.2.6　sequence與sequencer     098
9.2.7　agent     099
9.2.8　reference model     101
9.2.9　scoreboard     102
9.2.10　env     104
9.2.11　測試用例     105
9.2.12　tb_top     107
9.2.13　UVM環(huán)境的啟動     108
9.3  UVM基礎     109
9.3.1　uvm_component, uvm_object派生關系     109
9.3.2　UVM的樹形結構     112
9.3.3　field automation機制     113
9.3.4　config_db機制     115
9.4  UVM驗證環(huán)境的運行     116
9.4.1　phase機制     116
9.4.2　objection機制     118
習題       119
第10章  仿真驗證EDA工具     120
10.1  常用仿真驗證EDA工具     120
10.2  Modelsim工具簡介     121
10.3  Modelsim的使用方法     121
10.3.1　【方式二】的使用方法    122
10.3.2　【方式三】的使用方法     124
10.4  Modelsim中UVM驗證環(huán)境的運行方法     125
習題       127
第11章  實例解析     128
11.1  被測電路功能點Case抽取實例解析     128
11.2  斷言應用實例解析     134
11.3  隨機激勵應用實例解析     142
11.4  覆蓋率應用實例解析     147
11.5  結果自動對比應用實例解析     155
11.6  UVM驗證實例解析     166
第12章  綜合項目實例     183
12.1  UART傳輸電路的功能驗證項目     183
12.2  圖像JPEG編碼DCT模塊的功能驗證項目     206
參考文獻     222