現(xiàn)代數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)踐（第2版）

前言
第1章　實(shí)驗(yàn)基本知識(shí)1
　1.1　數(shù)字集成電路器件簡(jiǎn)介1
　　1.1.1　數(shù)字集成電路發(fā)展史1
　　1.1.2　數(shù)字集成電路分類1
　1.2　集成電路的命名規(guī)則7
　　1.2.1　我國(guó)集成電路的型號(hào)
命名方法7
　　1.2.2　國(guó)外部分公司及產(chǎn)品
代號(hào)8
　1.3　數(shù)字集成電路的使用規(guī)則8
　　1.3.1　CMOS電路的使用
規(guī)則8
　　1.3.2　TTL集成電路的使用
規(guī)則9
　1.4　數(shù)字電路中的常見(jiàn)故障及
檢測(cè)10
　　1.4.1　數(shù)字電路中的常見(jiàn)
故障10
　　1.4.2　數(shù)字電路中的常見(jiàn)
故障檢測(cè)11
　1.5　實(shí)驗(yàn)要求13
　　1.5.1　課前應(yīng)做的準(zhǔn)備工作13
　　1.5.2　實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng)13
　　1.5.3　實(shí)驗(yàn)報(bào)告的要求14
第2章　數(shù)字電路與邏輯設(shè)計(jì)
基本實(shí)驗(yàn)15
　2.1　TTL和CMOS集成門(mén)電路
參數(shù)測(cè)試15
　　2.1.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?5
　　2.1.2　實(shí)驗(yàn)儀器及器件15
　　2.1.3　實(shí)驗(yàn)原理15
　　2.1.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容18
　　2.1.5　思考題21
　2.2　TTL集電極開(kāi)路門(mén)和三態(tài)門(mén)
邏輯功能測(cè)試及應(yīng)用21
　　2.2.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?1
　　2.2.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件21
　　2.2.3　實(shí)驗(yàn)原理22
　　2.2.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容25
　　2.2.5　思考題26
　2.3　編碼器和譯碼器的應(yīng)用26
　　2.3.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?6
　　2.3.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件27
　　2.3.3　實(shí)驗(yàn)原理27
　　2.3.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容32
　　2.3.5　思考題33
　2.4　數(shù)據(jù)選擇器的應(yīng)用33
　　2.4.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?3
　　2.4.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件34
　　2.4.3　實(shí)驗(yàn)原理34
　　2.4.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容39
　　2.4.5　思考題41
　2.5　全加器的應(yīng)用41
　　2.5.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?1
　　2.5.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件41
　　2.5.3　實(shí)驗(yàn)原理42
　　2.5.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容48
　　2.5.5　思考題50
　2.6　組合邏輯電路的設(shè)計(jì)50
　　2.6.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?0
　　2.6.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件51
　　2.6.3　實(shí)驗(yàn)原理51
　　2.6.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容55
　　2.6.5　思考題56
　2.7　觸發(fā)器與計(jì)數(shù)器的應(yīng)用56
　　2.7.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?6
　　2.7.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件56
　　2.7.3　實(shí)驗(yàn)原理57
　　2.7.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容64
　　2.7.5　思考題65
　2.8　移位寄存器的應(yīng)用65
　　2.8.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?5
　　2.8.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件65
　　2.8.3　實(shí)驗(yàn)原理66
　　2.8.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容70
　　2.8.5　思考題72
　2.9　時(shí)序邏輯電路的設(shè)計(jì)72
　　2.9.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?2
　　2.9.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件72
　　2.9.3　實(shí)驗(yàn)原理72
　　2.9.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容76
　　2.9.5　思考題76
　2.10　A/D、D/A轉(zhuǎn)換器的
應(yīng)用77
　　2.10.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?7
　　2.10.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件77
　　2.10.3　實(shí)驗(yàn)原理77
　　2.10.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容80
　　2.10.5　思考題82
　2.11　脈沖波形的產(chǎn)生與整形83
　　2.11.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?3
　　2.11.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件83
　　2.11.3　實(shí)驗(yàn)原理83
　　2.11.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容88
　　2.11.5　思考題89
VIVII第3章　電路仿真設(shè)計(jì)軟件
Multisim在數(shù)字電路
實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用90
　3.1　Multisim 10簡(jiǎn)介90
　3.2　Multisim菜單欄90
　3.3　Multisim工具欄92
　　3.3.1　標(biāo)準(zhǔn)工具欄93
　　3.3.2　仿真工具欄93
　　3.3.3　主要工具欄94
　　3.3.4　視圖工具欄94
　　3.3.5　虛擬（元器件）
工具欄95
　　3.3.6　元器件工具欄95
　　3.3.7　圖表注釋工具欄96
　　3.3.8　儀器工具欄97
　3.4　Multisim中常用儀器簡(jiǎn)介98
　　3.4.1　數(shù)字萬(wàn)用表98
　　3.4.2　函數(shù)信號(hào)發(fā)生器99
　　3.4.3　示波器99
　　3.4.4　邏輯轉(zhuǎn)換儀100
　　3.4.5　邏輯分析儀100
　3.5　用Multisim分析和設(shè)計(jì)
數(shù)字邏輯電路101
　　3.5.1　用Multisim分析電路
舉例101
　　3.5.2　用Multisim設(shè)計(jì)組合
電路104
　　3.5.3　用Multisim設(shè)計(jì)時(shí)序
電路107
第4章　組合電路的自動(dòng)化設(shè)計(jì)、
仿真及實(shí)現(xiàn)109
　4.1　Quartus II簡(jiǎn)介109
　　4.1.1　Quartus II軟件的
特點(diǎn)109
　　4.1.2　Quartus II軟件的
開(kāi)發(fā)流程110
　　4.1.3　Quartus II的用戶
界面111
　　4.1.4　Quartus II的文件管理
體系112
　4.2　組合邏輯宏模塊的仿真及
測(cè)試113
　　4.2.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?13
　　4.2.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件113
　　4.2.3　實(shí)驗(yàn)原理113
　　4.2.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容122
　　4.2.5　思考題123
　4.3　組合電路的自動(dòng)化設(shè)計(jì)123
　　4.3.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?23
　　4.3.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件123
　　4.3.3　實(shí)驗(yàn)原理123
　　4.3.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容125
　　4.3.5　思考題127
　4.4　廣義譯碼器的應(yīng)用127
　　4.4.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?27
　　4.4.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件127
　　4.4.3　實(shí)驗(yàn)原理127
　　4.4.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容130
　　4.4.5　思考題132
　4.5　8位串行進(jìn)位加法器的
設(shè)計(jì)132
　　4.5.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?32
　　4.5.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件132
　　4.5.3　實(shí)驗(yàn)原理133
　　4.5.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容136
　　4.5.5　思考題137
　4.6　組合電路的硬件測(cè)試138
　　4.6.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?38
　　4.6.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件138
　　4.6.3　實(shí)驗(yàn)原理138
　　4.6.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容144
　　4.6.5　思考題145
　4.7　基于遠(yuǎn)程實(shí)境實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的
硬件測(cè)試146
　　4.7.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?46
　　4.7.2　實(shí)驗(yàn)儀器與器件146
　　4.7.3　實(shí)驗(yàn)原理14