基于離子通道理論建模的可靠性分析及退化數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析

第1部分 基于離子通道理論的可靠性分析
第1章 離子通道理論與聚合隨機過程
1．1 本章概述
1．2 可靠性工程的形成與發(fā)展
1．3 基于離子通道理論的狀態(tài)聚合可修系統(tǒng)
1．4 相關概念與基礎理論
1．5 連續(xù)時間馬爾可夫過程
1．6 可靠性指標及系統(tǒng)模型
1．7 本章小結
第2章 依據(jù)逗留時間分類的聚合隨機模型狀態(tài)指標分析
2．1 本章概述
2．2 模型描述與模型假設
2．3 點概率指標的定義及公式推導
2．4 區(qū)間概率指標的定義及公式推導
2．5 指標之間的關系及其性質(zhì)
2．6 特殊情況
2．7 數(shù)值算例
2．8 本章小結
第3章 多狀態(tài)聚合馬爾可夫模型狀態(tài)指標的分析
3．1 本章概述
3．2 系統(tǒng)描述與模型假設
3．3 多狀態(tài)馬爾可夫可修系統(tǒng)點概率指標的定義及公式推導
3．4 多狀態(tài)馬爾可夫可修系統(tǒng)區(qū)間概率指標的定義及公式推導
3．5 特殊情況
3．6 數(shù)值算例
3．7 本章小結
第4章 交替更新過程下可忽略工作時間和故障時間的聚合隨機模型的研究
4．1 本章概述
4．2 可忽略故障時間的聚合隨機模型（模型I）
4．3 對故障時間和工作時間均有忽略的聚合隨機模型（模型Ⅱ）
4．4 特殊情況
4．5 數(shù)值算例
4．6 本章小結
第5章 具有兩個閾值限制的聚合隨機模型指標的研究
5．1 本章概述
5．2 系統(tǒng)建模與模型假設
5．3 點概率指標的定義及計算公式
5．4 區(qū)間概率指標的定義及計算公式
5．5 特殊情況
5．6 數(shù)值算例
5．7 本章小結

第2部分 基于退化數(shù)據(jù)的可靠性分析及統(tǒng)計分析
第6章 基于性能退化數(shù)據(jù)的可靠性分析
6．1 本章概述
6．2 性能退化的相關概念
6．3 常見退化軌跡模型
6．4 退化數(shù)據(jù)及退化軌跡模型的確定
6．5 基于退化軌跡-回歸方法的可靠性建模與評價
6．6 本章小結
第7章 基于小樣本故障數(shù)據(jù)的可靠性建模與分析
7．1 本章概述
7，2先驗信息預處理
7．3 先驗分布的確定
7．4 運用OpenBUGS軟件計算后驗分布
7．5 本章小結
第8章 基于定數(shù)截尾樣本的高檔數(shù)控機床的可靠性評估
8．1 本章概述
8．2 可靠性評估的流程
8．3 經(jīng)驗分布函數(shù)
8．4 可靠性評估的方法
8．5 實例分析
8．6 本章小結
參考文獻
附錄A 重點符號說明