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內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《高靈敏及高分辨KPFM及其相關(guān)技術(shù)/納米光子學(xué)叢書(shū)》主要總結(jié)了作者近年來(lái)在超高真空非接觸式原子力顯微鏡（UHV-NC-AFM）和開(kāi)爾文探針力顯微鏡（KPFM）方向的科研成果，以及相關(guān)技術(shù)的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用?！陡哽`敏及高分辨KPFM及其相關(guān)技術(shù)/納米光子學(xué)叢書(shū)》介紹了AFM、KPFM及其相關(guān)技術(shù)的原理、成像特點(diǎn)以及應(yīng)用范圍；重點(diǎn)介紹了常溫／低溫AFM、KPFM等儀器關(guān)鍵技術(shù)及搭建難點(diǎn)，及運(yùn)用上述儀器取得的典型成果；并介紹了極端環(huán)境（超低溫、超高真空）下AFM在氧化物表面的探針修飾、原子識(shí)別技術(shù)成果；針對(duì)在KPFM測(cè)量過(guò)程中出現(xiàn)的雜散電容效應(yīng)及幻影力作用，提出了抑制上述兩種效應(yīng)的外差調(diào)幅KPFM、無(wú)反饋KPFM方法，并給出了這兩種方法的原理及實(shí)驗(yàn)效果。《高靈敏及高分辨KPFM及其相關(guān)技術(shù)/納米光子學(xué)叢書(shū)》可作為儀器學(xué)科、表面科學(xué)以及測(cè)量專(zhuān)業(yè)本科生和研究生相應(yīng)課程的參考書(shū)，也可供相關(guān)領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)人員參考使用。

作者簡(jiǎn)介

　　馬宗敏，教授，主要從事超高分辨精密測(cè)量、固態(tài)量子傳感等方向的研究工作。提出了鐵磁共振磁交換力顯微鏡方法，建立了基于塞曼分裂的鐵磁共振磁交換力顯微系統(tǒng)模型，自主搭建了基于超高真空原子力顯微鏡的磁信息測(cè)量平臺(tái)，得到了典型磁性材料的高分辨成像。提出了外差調(diào)幅開(kāi)爾文力探針顯微方法，建立了基于該方法的理論模型，同時(shí)從理論和實(shí)驗(yàn)上將AM-KPFM的雜散電容降低了90%以上，靈敏度比調(diào)頻開(kāi)爾文力探針顯微提高了2～3倍。提出了基于金剛石氮空位色心（NV center）的固態(tài)磁傳感器、陀螺儀方法與技術(shù)，完成了靈敏度較高的原子磁強(qiáng)計(jì)樣機(jī)研制。近年來(lái)，作為負(fù)責(zé)人主持國(guó)家科技部重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃課題、國(guó)家自然科學(xué)基金委員會(huì)面上基金、國(guó)家國(guó)防科技工業(yè)局國(guó)防基礎(chǔ)科研等項(xiàng)目。發(fā)表SCI論文30余篇。

圖書(shū)目錄

Chapter 1 Introduction
1．1 Preface
1．1．2 Surface Charge
1．1．4 Artifact Induced in The KPFM
1．3 0utline
Chapter 2 Theory of Noncontact Atomic-Force Microscopy
2．1 Preface
2．2 Atomic-Force Microscopy
2．2．4 Principle of The Cantilever
2．3 Applications of SPM in Micro Measurements/Nano
2．3．2 Microelectronics/Nanoelectronics
2．3．4 Manipulation and Spectroscopy
Chapter 3 Kelvin Probe Force Microscopy
3．2 Amplitude Modulation and Frequency Modulation
3．3 Minimum Detectable Contact Potential Difference in AM-and FM-KPFMs
3．4 KPFM in Electrostatic Force Measurements
3．5 Conclusion
Chapter 4 NC-AFM/KPFM Equipment
4．1 Preface
4．3．2 Fiber and Sample Approach Stages
4．3．3 Tube Scanner
4．3．4 Cantilever and Sample Holders
4．3．5 Vibration Isolation System
4．4．1 0ptical Interference Theory
4．4．2 Interferometer Detection
4．5 W-Sputteringlnstrument
……
Chapter 5 Atomic Resolution on Cu(ll0)-0 Surface with NC-AFM
Chapter 6 Clarification of Stray Capacitance Effect with Heterodyne-AM KPFM(HAM-KPEM) at Atomic Resolution
Chapter 7 Phantom Force Elimination Using FM-KPFM without
Feedback at Atomic Resolution
Appendix Ⅰ
Appendix Ⅱ