光斑定位技術

篇 光斑定位技術
章 光電測量技術
1．1 引言
1．2 光電測量技術特點與分類
1．2．1 光電測量技術特點
1．2．2 光電測量技術分類
第2章 光斑位置檢測技術
2．1 光斑位置測量技術
2．1．1 光斑位置測量概述
2．1．2 光斑位置測量技術
2．2 光斑位置測量技術應用
2．2．1 同軸度測量技術
2．2．2 建筑變形測量技術
2．2．3 光學三維面形測量技術
2．2．4 激光三維面形測量技術
2．2．5 運動測量技術
2．3 光斑位置測量中的數(shù)據(jù)處理
第3章 光斑位置檢測器件
3．1 實現(xiàn)光斑位置檢測的器件
3．1．1 CCD器件
3，1．2 CMOS圖像傳感器
3．1．3 PSD器件
3．2 半導體激光準直光源
3．2．1 激光二極管（LD）
3．2．2 準直透鏡
3．2．3 整形棱鏡
3．2．4 驅(qū)動電路
3．3 PSD器件
3．3．1 橫向光電效應簡介
3．3．2 PSD性能指標
3．3．3 影響PSD測量精度的因素
3．4 PSD光斑定位技術
3．4．1 PSD應用的原則
3．4．2 光斑定位算法
3．4．3 與光斑定位有關的二維表快速檢索算法
3．4．4 PSD器件非線性誤差的神經(jīng)網(wǎng)絡修正方法
3．4．5 一維光斑位置傳感器非線性誤差修正
3．5 環(huán)境光的影響與消除
3．5．1 環(huán)境光的影響模式
3．5．2 消除環(huán)境光影響的方法
3．5．3 試驗結(jié)果
3．6 用一維PSD實現(xiàn)二維檢測
3．6．1 擴大PSD量程的方法
3．6．2 用一維PSD實現(xiàn)二維檢測
3．7 光線定位技術
3．8 CMOS圖像傳感器用作光斑位置傳感器的研究
3．8．1 結(jié)構(gòu)形式及物鏡幾何畸變的校正
3．8．2 基于OV9120的光斑位置傳感器設計
3．9 大相對孔徑半導體激光準直鏡的設計
3．9．1 半導體激光束經(jīng)圓孔的耦合效率
3．9．2 三片式大相對孔徑激光準直物鏡的設計
……
第二篇 光斑定位技術應用