單片機應用與電子設計競賽實訓（第二版）

第1章 基礎部分 1.1 電阻 1.1.1 電阻器參數(shù)的識別 1.1.2 電阻器的種類 1.1.3 電阻器的檢測 1.2 電容 1.2.1 電容參數(shù)的識別 1.2.2 電容的種類 1.2.3 電容的檢測 1.3 電感 1.3.1 電感參數(shù)的識別 1.3.2 常用電感的種類 1.3.3 電感的檢測 1.4 二極管 1.4.1 二極管參數(shù)的識別 1.4.2 二極管的種類 1.4.3 二極管的檢測 1.5 三極管 1.5.1 三極管的參數(shù)識別 1.5.2 三極管的種類 1.5.3 三板管的檢測 1.6 邏輯電路 1.6.1 基本邏輯電路 1.6.2 存儲電路 1.6.3 寄存器 1.6.4 計數(shù)器 1.6.5 鎖存器 第2章 單片機基礎 2.1 單片機的寄存器 2.2 單片機的存儲裝置 2.3 單片機的指令 2.4 單片機的端口 2.4.1 控制I／O端口的功能寄存器 2.4.2 端口的輸入控制 2.4.3 端口的輸出控制 2.5 單片機的定時器 2.5.1 定時器的類型 2.5.2 8位定時器／事件計數(shù)器50 2.6 單片機內部的A／D轉換器 2.6.1 A／D轉換器的操作 2.6.2 A／D轉換器的應用 2.6.3 使用開發(fā)工具進行系統(tǒng)開發(fā) 2.7 單片機內部的串行接口 2.7.1 異步串行通訊接口 2.7.2 3線串行通訊接口 2.8 中斷 2.9 選項字節(jié) 第3章 實驗環(huán)境 3.1 教學板硬件概述 3.1.1 教學板及附件 3.1.2 NEC AF／SP-1編程器的連接 3.1.3 NEC NTC MINICUBE 78KO的連接 3.1.4 教學板配置圖 3.2 系統(tǒng)結構框圖 3.3 存儲器映射圖 3.3.1 存儲器組 3.3.2 存儲器映射 3.4 I／O映射 第4章 系統(tǒng)開發(fā)環(huán)境介紹 4.1 開發(fā)環(huán)境概述 4.1.1 軟件包 4.1.2 語言處理軟件 4.1.3 Flash存儲器寫入工具 4.1.4 調試工具（硬件） 4.1.5 調試工具（軟件） 4.2 可以自動生成代碼的系統(tǒng)配置功能——Applilet 4.2.1 Applilet的簡述 4.2.2 Applilet的操作 4.2.3 加載到PM Plus 4.3 PM Plus的操作 4.4 QB-78KOMINI仿真器的使用 4.4.1 界面介紹 4.4.2 使用QB-78KOMINI仿真器 4.4.3 在ID78KO-QB for MINICUBE中調試 4.4.4 高級調試功能 4.5 系統(tǒng)仿真器SM for 78KO／Kx2的使用 4.5.1 加載SM for 78KO／Kx2 4.5.2 運行程序 4.5.3 使用系統(tǒng)仿真器SM for 78KO／Kx2進行調試 第5章 實驗項目 5.1 KEY＆LED控制 5.1.1 實驗目的 5.1.2 實驗內容 5.1.3 預備知識 5.1.4 實驗原理 5.1.5 實驗方法 5.2 點陣式LCD的控制 5.2.1 實驗目的 5.2.2 實驗內容 5.2.3 預備知識 5.2.4 實驗原理 5.2.5 實驗方法 5.3 串行口控制 5.3.1 實驗目的 5.3.2 實驗內容 5.3.3 預備知識 5.3.4 實驗原理 5.3.5 實驗方法 5.4 直流電機控制 5.4.1 實驗目的 5.4.2 實驗內容 5.4.3 預備知識 5.4.4 實驗原理 5.4.5 實驗方法 5.5 步進電機控制 5.5.1 實驗目的 5.5.2 實驗內容 5.5.3 預備知識 5.5.4 實驗原理 5.5.5 實驗方法 5.6 音樂鍵 喇叭控制 5.6.1 實驗目的 5.6.2 實驗內容 5.6.3 預備知識 5.6.4 實驗原理 5.6.5 實驗方法 5.7 EEPROM控制 5.7.1 實驗目的 5.7.2 實驗內容 5.7.3 預備知識 5.7.4 實驗原理 5.7.5 實驗方法 5.8 溫度、壓力傳感器控制 5.8.1 實驗目的 5.8.2 實驗內容 5.8.3 預備知識 5.8.4 實驗原理 5.8.5 實驗方法 5.9 綜合實驗 5.9.1 實驗目的 5.9.2 實驗內容 5.9.3 實驗環(huán)境 5.9.4 實驗原理 5.9.5 實驗方法 第6章 電子制作 6.1 電路構成 6.2 閃存編程器的制作 6.3 編程器的應用 6.4 程序開發(fā) 6.4.1 開發(fā)工具的準備 6.4.2 編程