X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門(mén)

第1章　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修
　1.1　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修發(fā)展概況
　1.2　Rietveld法基本原理
　1.3　參數(shù)修正順序與結(jié)果判據(jù)
　　1.3.1　參數(shù)修正的順序
　　1.3.2　精修的數(shù)值判據(jù)
　　1.3.3　精修的圖示判斷
　1.4　精修過(guò)程出現(xiàn)的問(wèn)題和對(duì)策
　1.5　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修的應(yīng)用
　　1.5.1　修正晶體結(jié)構(gòu)
　　1.5.2　相變研究和點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)定
　　1.5.3　物相定量分析
　　1.5.4　晶粒尺寸和微應(yīng)變測(cè)定
第2章　EXPGUI-GSAS軟件安裝與界面介紹
　2.1　GSAS軟件簡(jiǎn)介
　2.2　EXPGUI-GSAS軟件的安裝
　2.3　EXPGUI-GSAS軟件界面介紹
　　2.3.1　菜單欄
　　2.3.2　選項(xiàng)卡界面
　　2.3.3　EXPGUI幫助內(nèi)容
第3章　EXPGUI-GSAS結(jié)構(gòu)精修起步
　3.1　精修前的準(zhǔn)備工作
　　3.1.1　衍射數(shù)據(jù)的測(cè)定
　　3.1.2　衍射數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換
　　3.1.3　初始結(jié)構(gòu)的獲取
　3.2　EXPGUI精修簡(jiǎn)單示例
　　3.2.1　生成EXP文件
　　3.2.2　精修過(guò)程
　　3.2.3　常見(jiàn)問(wèn)題
　3.3　精修結(jié)果提取與繪圖
　　3.3.1　精修結(jié)果提取
　　3.3.2　精修圖譜繪圖
第4章　EXPGUI-GSAS提高練習(xí)
　4.1　儀器參數(shù)文件的建立
　　4.1.1　基本知識(shí)
　　4.1.2　操作過(guò)程
　4.2　物相（含非晶）定量分析
　　4.2.1　基本原理
　　4.2.2　衍射數(shù)據(jù)測(cè)試
　　4.2.3　精修過(guò)程
　4.3　Le Bail法擬合以及約束的使用
　　4.3.1　問(wèn)題描述
　　4.3.2　精修過(guò)程
參考文獻(xiàn)