印刷電路板光電圖像檢測(cè)與處理

第1章緒論1
1.1研究背景及意義1
1.2國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀6
1.3本書的主要工作13
參考文獻(xiàn)16
第2章印刷電路板光電圖像獲取與預(yù)處理21
2.1印刷電路板光電圖像獲取21
2.1.1自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的圖像獲取系統(tǒng)21
2.1.2印刷電路板自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的局部圖像的獲取24
2.1.3印刷電路板自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的全景圖像的獲取25
2.2印刷電路板光電圖像去噪29
2.2.1常見圖像去噪方法29
2.2.2基于VMDIE濾波器的印刷電路板光電圖像去噪31
2.2.3基于改進(jìn)的全變分模型自適應(yīng)印刷電路板光電圖像去噪34
2.2.4印刷電路板光電圖像去噪結(jié)論41
2.3印刷電路板光電圖像增強(qiáng)處理算法42
2.3.1RGR與GT相結(jié)合的圖像增強(qiáng)算法42
2.3.2RGR與BHPBFT融合的圖像增強(qiáng)算法46
2.4本章小結(jié)49
參考文獻(xiàn)50
第3章含噪聲印刷電路板光電圖像邊緣檢測(cè)52
3.1幾種常見的圖像邊緣檢測(cè)算法52
3.1.1梯度算子53
3.1.2LOG 算子55
3.1.3Canny邊緣檢測(cè)算子57
3.1.4幾種常見邊緣檢測(cè)算子的實(shí)驗(yàn)比較58
3.2小波變換模極大值與改進(jìn)灰值數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)印刷電路板光電圖像融合邊緣檢59
3.2.1基本原理60
3.2.2實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析63
3.3小波變換模極大值與Canny邊緣檢測(cè)算子融合印刷電路板光電圖像邊緣檢測(cè)65
3.3.1基本原理66
3.3.2實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析66
3.4二階曲線擬合、模式聚類與閾值比較法相結(jié)合印刷電路板光電圖像 邊緣檢測(cè)69
3.4.1基本原理70
3.4.2實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析71
3.5本章小結(jié)73
參考文獻(xiàn)74
第4章印刷電路板光電圖像的圓檢測(cè)77
4.1Hough變換和圓擬合中的LSM77
4.1.1Hough 變換77
4.1.2圓擬合中的LSM78
4.2印刷電路板光電圖像中的單圓檢測(cè)78
4.2.1基于Hough變換的圓檢測(cè)79
4.2.2基于PHT的印刷電路板光電圖像單圓檢測(cè)80
4.3印刷電路板光電圖像同心圓檢測(cè)84
4.3.1常見的同心圓檢測(cè)方法84
4.3.2印刷電路板光電圖像中的同心圓84
4.3.3基于Hough變換的印刷電路板光電圖像同心圓檢測(cè)85
4.4印刷電路板光電圖像缺陷圓孔檢測(cè)89
4.4.1印刷電路板光電圖像的圓孔缺陷89
4.5本章小結(jié)96
參考文獻(xiàn)96
第5章基于光照不均蛻化校正的印刷電路板光電圖像目標(biāo)分割99
5.1CCD獲取的印刷電路板光電圖像光照不均蛻化的產(chǎn)生及校正方法99
5.1.1光照不均蚊化的產(chǎn)生99
5.1.2光照不均化的校正方法102
5.2基于光照不均蛻化的印刷電路板光電圖像目標(biāo)分割方法104
5.2.1基于光照不均脫化的印刷電路板光電圖像閾值分割方法104
5.2.2基于光照不均蚊化的印刷電路板光電圖像改進(jìn)的FCM分割方法110
5.3本章小結(jié)115
參考文獻(xiàn)115
第6章基于CCD攝像系統(tǒng)的印刷電路板光電圖像畸變校正118
6.1圖像畸變及其校正118
6.1.1圖像畸變118
6.1.2圖像畸變的校正118
6.2印刷電路板光電圖像畸變校正123
6.2.1基于圖像空間坐標(biāo)變換方法一的印刷電路板光電圖像畸變校正123
6.2.2基于圖像空間坐標(biāo)變換方法二的印刷電路板光電圖像畸變校正127
6.2.3PCB光電圖像畸變校正實(shí)驗(yàn)結(jié)果誤差及其分析134
6.3本章小結(jié)135
參考文獻(xiàn)136
第7章印刷電路板光電圖像走線檢測(cè)139
7.1印刷電路板光電圖像中的走線139
7.1.1印刷電路板光電圖像中的走線種類139
7.1.2印刷電路板光電圖像中的走線邊緣142
7.2印刷電路板光電圖像中的走線檢測(cè)142
7.2.1RHT的直線檢測(cè)143
7.2.2LSM擬合直線145
7.2.3RHT與LSM相結(jié)合的印刷電路板光電圖像走線檢測(cè)147
7.2.4印刷電路板光電圖像中的走線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析147
7.3本章小結(jié)150
參考文獻(xiàn)150
第8章總結(jié)和前景展望152
8.1本書研究總結(jié)152
8.2前景展望154
參考文獻(xiàn)155
索引157