專利測度與評價指標體系研究

第一章 緒論 1．1 研究意義 1．2 研究內容與方法 第二章 國內外相關研究 2．1 國外研究現(xiàn)狀 2．1．1 日本知識產權管理評估指標體系 2．1．2 美國CHI Research專利評價指標 2．1．3 瑞士《洛桑年鑒》中的專利評價指標 2．2 國內研究現(xiàn)狀 2．2．1 區(qū)域方面 2．2．2 企業(yè)方面 2．2．3 高校(研究所)方面 2．2．4 知識產權保護水平評價及其他方面 第三章 專利綜合評價指標體系 3．1 專利概述 3．2 構建專利綜合評價指標體系的原則和目標 3．2．1 構建評價指標體系遵循的原則 3．2．2 構建評價指標體系的目標 3．3 區(qū)域專利評價指標體系 3．3．1 區(qū)域專利評價指標體系構建 3．3．2 區(qū)域專利評價指標體系解析 3．4 企業(yè)專利評價指標體系 3．4．1 企業(yè)專利評價指標體系構建 3．4．2 企業(yè)專利評價指標體系解析 3．5 高校專利評價指標體系 3．5．1 高校專利評價指標體系構建 3．5．2 高校專利評價指標體系解析 3．6 專利保護水平評價指標體系 3．6．1 區(qū)域專利保護水平評價指標體系 3．6．2 高技術企業(yè)專利保護水平評價指標體系 第四章 基于證券化的專利價值評估指標體系 4．1 知識產權價值評估的基本方法和影響因素 4．1．1 成本法 4．1．2 收益法 4．1．3 市場法 4．1．4 知識產權價值評估影響因素 4．2 專利證券化的依據 4．2．1 資產證券化的概念 4．2．2 專利證券化的理論依據 4．3 專利證券化的過程 4．3．1 專利證券化融資模式的特殊性 4．3．2 專利證券化交易原理與操作流程 4．4 專利證券化價值評估指標體系 4．4．1 專利證券化價值評估的特殊性 4．4．2 專利證券化價值評估的影響因素 4．4．3 專利證券化價值評估指標體系的構建 第五章 專利狀況綜合評價及實證研究 5．1區(qū)域專利狀況綜合評價 5．1．1 主成分分析法原理 5．1．2 基于主成分分析的區(qū)域專利狀況綜合評價 5．2 區(qū)域專利保護水平綜合評價 5．2．1 數據來源 5．2．2 基于主成分分析的區(qū)域專利保護水平綜合評價 5．3 企業(yè)專利狀況綜合評價 5．3．1 層次分析法原理 5．3．2 模糊綜合評價法原理 5．3．3 基于模糊綜合評價的企業(yè)專利狀況綜合評價 5．4 高校專利狀況綜合評價 5．4．1 指標體系與數據來源 5．4．2 基于模糊綜合評價的高校專利狀況綜合評價 5．5 專利證券化價值評估研究 5．5．1 基于Tropsis的改進灰色關聯(lián)度法 5．5．2 基于Topsis改進灰色關聯(lián)度法的專利證券化價值評估 第六章 專利綜合實力對經濟發(fā)展的貢獻研究 6．1 專利綜合實力與經濟發(fā)展的相關研究 6．1．1 專利綜合實力的界定與影響因素 6．1．2 專利綜合實力與經濟發(fā)展的內在作用機制 6．2專利綜合實力測度指標體系 6．2．1 專利綜合實力測度指標體系構建 6．2．2 評價指標解析 6．3 專利綜合實力測度實證分析 6．3．1 指標權重確定 6．3．2 中部地區(qū)專利綜合實力測度及對比 6．4 專利綜合實力與經濟增長內在關系實證研究 6．4．1 中部地區(qū)專利綜合實力概述 6．4．2 中部地區(qū)經濟發(fā)展狀況概述 6．4．3 研究方法選取 6．4．4 研究假說 6．4．5 全模型構建 6．4．6 模型估計 6．5 結論與建議 參考文獻 附錄A 企業(yè)專利評價專家咨詢表 附錄B 專利證券化價值評估調查問卷 后記