近代物理實(shí)驗（第2版）

單元一　誤差理論與數(shù)據(jù)分析
　一、測量誤差
　二、隨機(jī)變量的概率分布
　三、隨機(jī)誤差的統(tǒng)計分析
　四、不確定度
　五、數(shù)據(jù)處理——最小二乘法擬合
單元二　基于Newport光學(xué)組合儀的光學(xué)和光纖光學(xué)實(shí)驗
　光纖基本知識與光學(xué)組合儀簡介
　　實(shí)驗一　光纖的操作和光纖數(shù)值孔徑測量
　　實(shí)驗二　半導(dǎo)體激光器特性測量
　　實(shí)驗三　位移傳感器
單元三　原子物理與光譜測量技術(shù)
　3．1　原子物理基本知識
　3．2　光譜測量技術(shù)
　　實(shí)驗四　電子束在電場／磁場中的運(yùn)動規(guī)律
　　實(shí)驗五　氫原子光譜
　　實(shí)驗六　黑體輻射
　　實(shí)驗七　塞曼效應(yīng)
　　實(shí)驗八　X射線裝置及實(shí)驗
　　實(shí)驗九　激光拉曼光譜
　　實(shí)驗十　紫外一可見一紅外分光光度計
單元四　光學(xué)
　實(shí)驗十一　激光全息攝影
　實(shí)驗十二　光全息干涉計量
　實(shí)驗十三　阿貝成像原理和空間濾波
　實(shí)驗十四　光學(xué)圖像處理
　實(shí)驗十五　超聲光柵
　實(shí)驗十六　樸克爾斯效應(yīng)
　實(shí)驗十七　法拉第效應(yīng)
單元五　微波與微弱信號測量技術(shù)
　5．1　微波技術(shù)基本知識
　　實(shí)驗十八　微波基本參量和傳輸特性
　　實(shí)驗十九　微波的干涉和衍射
　　實(shí)驗二十　介電常數(shù)波導(dǎo)法測量
　5．2　微弱信號檢測技術(shù)基礎(chǔ)知識
　　實(shí)驗二十一　相關(guān)器原理和基本參數(shù)
　　實(shí)驗二十二　鎖相放大器原理和應(yīng)用
　5．3　等離子體基本知識
　　實(shí)驗二十三　低溫等離子體溫度和密度測量
單元六　核物理測量技術(shù)
　核技術(shù)概述
　　實(shí)驗二十四　半導(dǎo)體a譜儀
　　實(shí)驗二十五　相對論效應(yīng)
　　實(shí)驗二十六　核磁共振
單元七　真空鍍膜與制冷技術(shù)
　實(shí)驗二十七　真空鍍膜
　實(shí)驗二十八　小型制冷裝置制冷量和制冷系數(shù)的測量
單元八　創(chuàng)新實(shí)驗
　8．1　高溫氧化物超導(dǎo)樣品制備和物性測量
　8．2　功能玻璃材料制備和激光誘導(dǎo)微納結(jié)構(gòu)