電子設備系統(tǒng)可靠性設計與試驗技術指南

第1篇　可靠性工程與設備的可靠性指標
　第1章　可靠性工程介紹
　　1.1什么是可靠性工程
　　1.2可靠性工程包括的內容
　　1.3什么是電子設備的可靠性
　　1.4固有可靠性和使用可靠性
　　1.5可靠性增長
　　1.6可靠性設計的主要任務和基本原則
　第2章　可靠性的概率分布函數(shù)與可靠性的數(shù)量特征(指標)
　　2.1隨機變量、分布函數(shù)、分布的參數(shù)
　　2.2可靠性常用的概率分布函數(shù)
　　2.3排列和組合
　　2.4規(guī)定產品可靠性數(shù)量特征(指標)的意義
　　2.5可靠性的主要數(shù)量特征(指標)及計算方法
第2篇　設備系統(tǒng)的總體可靠性設計
　第3章　可靠性指標的論證與確定
　　3.1可靠性指標的論證
　　3.2確定設備系統(tǒng)可靠性指標的原則與方法
　第4章　可靠性結構模型與數(shù)學模型
　　4.1建立可靠性模型的條件與原則
　　4.2可靠性結構模型的建立
　　4.3可靠性結構模型與數(shù)學模型
　第5章　可靠性預計
　　5.1可靠性預計的作用
　　5.2可靠性預計的方法和程序
　　5.3詳細的元器件應力分析預計法舉例
　第6章　可靠性指標的分配
　　6.1可靠性指標分配的作用
　　6.2可靠性分配的基本原則和注意事項
　　6.3可靠性分配方法和程序
　第7章　系統(tǒng)的維修性和安全性設計
　　7.1系統(tǒng)的維修性設計
　　7.2安全性設計的要求和措施
　第8章　可靠性設計與人的關系
　　8.1引言
　　8.2設計與生產
　　8.3人的因素理論與人機工程
　　8.4人的因素與可靠性之間的關系
　　8.5人一機分配與可靠性
　　8.6人的差錯率的研究與預測方法
　　8.7人一機工程設計的一般要求
第3篇　保證設備系統(tǒng)可靠性的設計技術
　第9章　元器件工程與降額設計
　　9.1設備系統(tǒng)實施元器件工程的重要性與主要工作內容
　　9.2降額設計
　　9.3降額設計的原則
　　9.4元器件選用準則及在工程中的應用
　第10章　冗余設計
　　10.1概述
　　10.2冗余設計技術的分類及功能
　　10.3冗余設計技術介紹
　　10.4冗余系統(tǒng)的選擇
　　10.5使用冗余系統(tǒng)應考慮的因素
　第11章　環(huán)境影響及耐環(huán)境設計
　　11.1環(huán)境條件對設備可靠性的影響
　　11.2熱設計技術
　　11.3防沖擊和振動設計
　第12章　電磁兼容設計
　　12.1電磁兼容概述
　　12.2電磁干擾源及干擾引入方式
　　12.3電磁兼容設計的一般要求
　　12.4抑制電磁干擾的一些方法
　　12.5電磁兼容性設計技術
　第13章　其他可靠性設計技術
　　13.1簡化電路設計及減少元器件品種和數(shù)量
　　13.2集成化設計
　　13.3采用成熟的新技術
　　第14章　可靠性分析技術
　　14.1失效模式、影響及危害度分析
　　14.2失效樹分析法
　第15章　可靠性設計評審
　　15.1設計評審的作用和目的
　　15.2設計評審的準備及評審的內容范圍
　　15.3設計評審的組織及成員職責
　　15.4設計評審的程序與結論
第4篇　設備系統(tǒng)的可靠性試驗
　第16章　可靠性試驗的基礎知識
　　16.1影響產品可靠性的因素
　　16.2可靠性試驗的定義與原理
　　16.3可靠性試驗的種類及其目的
　　16.4正確評定設備的可靠性
　第17章　統(tǒng)計試驗方案
　　17.1試驗參數(shù)的定義
　　17.2怎樣正確選擇試驗參數(shù)
　　17.3試驗方案的種類及選擇試驗方案的原則
　　17.4標準型試驗方案及其判決標準
　　17.5試驗樣品數(shù)量和試驗時間的確定
　　17.6恒定失效率有效性檢驗
　　17.7用試驗觀察數(shù)據(jù)估計設備的平均無故障工作時間(MTBF)
　第18章　可靠性試驗的一般要求
　　18.1試驗類型的選擇
　　18.2可靠性試驗的設計
　　18.3可靠性鑒定試驗前應具備的條件
　　18.4試驗樣品的要求
　　18.5試驗設備、儀器儀表的要求
　　18.6試驗實施的要求
　　18.7受試設備的檢測要求
　　18.8受試設備接收與否的判決
　　18.9糾正措施
　　18.10預防性維護
　　18.11受試設備的復原
　　18.12對可靠性試驗的檢查與監(jiān)督
　第19章　試驗條件選擇及試驗周期設計
　　19.1設備的分類
　　19.2試驗條件的分類
　　19.3試驗條件的選擇
　　19.4對基本環(huán)境試驗方法的要求
　　19.5試驗中的工作條件
　　19.6試驗周期(循環(huán))與試驗程序的設計
　　19.7推薦的試驗周期
　　19.8編制可靠性試驗程序的實例與說明
　第20章　失效的分類、分析與處理
　　20.1失效的定義與分類
　　20.2失效時間的判定
　　20.3失效的處理方法
　　20.4失效的分析方法與要求
　　20.5失效的檢測方法與要求
　　20.6失效的最后分類與相關失效數(shù)的確定
　　20.7制定糾正措施方案
　第21章　試驗的記錄與報告
　　21.1可靠性試驗報告
　　21.2可靠性試驗測試記錄
　　21.3可靠性試驗失效綜合報告表
　　21.4可靠性試驗分析與修理報告表
　第22章　現(xiàn)場可靠性試驗
　　22.1試驗的目的
　　22.2試驗的一般要求
　　22.3試驗條件
　　22.4受試設備性能和相關試驗時間
　　22.5數(shù)據(jù)收集
　　22.6正確評定與比較現(xiàn)場可靠性試驗與試驗室模擬可靠性試驗數(shù)據(jù)
　第23章　可靠性試驗技術與管理
　　23.1可靠性試驗技術
　　23.2關于大中型電子設備的可靠性評定
　　23.3可靠性試驗的管理
　第24章　可靠性增長試驗方法
　　24.1概述
　　24.2術語
　　24.3一般要求
　　24.4詳細要求
　　24.5杜安可靠性增長模型的說明和MTBF移動平均值法的探討
　　24.6AMsAA模型增長分析
參考文獻