近代物理實驗教程（第二版）

第二版前言
第一版序
第一版前言
單元0 誤差分析與數(shù)據(jù)處理
0.1 測量誤差和不確定度概念
0.2 隨機變量的概率分布
0.3 隨機誤差的統(tǒng)計分析
0.4 實驗結(jié)果的不確定度
0.5 分布規(guī)律的X2檢驗
0.6 最小二乘擬合
0.7 系統(tǒng)誤差的限制和消除
單元1 原子物理
1.1 弗蘭克一赫茲實驗
1.2 鈉原子光譜
1.3 密立根油滴實驗
1.4 塞曼效應
1.5 拉曼光譜
1.6 氫與氘原子光譜
單元2原子核物理
2.0 核物理實驗技術(shù)基礎(chǔ)知識
2.1 蓋革-米勒計數(shù)管的特性及放射性衰變的統(tǒng)計規(guī)律
2.2 y能譜的測量
2.3 符合測量
2.4 用快速電子驗證相對論效應
單元3 激光、光信息處理和光學測量
3.1 激光器特性及其參數(shù)的測量
3.2 He—Ne激光器縱模間隔測量
3.3 全息技術(shù)
3.4 光學信息處理
3.5 橢圓偏振法測量薄膜厚度、折射率和金屬復折射率
3.6 光拍頻法測量光的速度
3.7 各向異性晶體光學性質(zhì)的觀測和研究
單元4 真空技術(shù)
4.1 高真空的獲得與測量
4.2 真空鍍膜
4.3 蒸氣冷凝法制作納米顆粒
4.4 等離子體特性和參數(shù)測量
單元5 x射線衍射技術(shù)
5.0 X射線衍射的基礎(chǔ)知識
5.1 立方晶系點陣常數(shù)的測定
5.2 勞厄相法測定單晶取向
單元6 低溫和固體物理
6.0 低溫基礎(chǔ)知識
6.1 電阻溫度關(guān)系和減壓降溫技術(shù)
6.2 高溫超導體基本特性的測量
6.3 用電容-電壓法測半導體雜質(zhì)濃度分布
6.4 霍爾效應
6.5 鐵電體電滯回線及居里溫度的測量
6.6 掃描隧道顯微鏡實驗
單元7 聲學
7.1 超聲探傷和超聲速測量
7.2 噪聲測量和頻譜分析
單元8 微波技術(shù)
8.0 微波基本知識
8.1 微波的傳輸特性和基本測量
8.2 微波介質(zhì)特性的測量
8.3 大氣衛(wèi)星云圖的接收和分析
單元9 磁共振技術(shù)
9.0 磁共振基礎(chǔ)知識
9.1 核磁共振的穩(wěn)態(tài)吸收
9.2 脈沖核磁共振法測量弛豫時間
9.3 電子自旋共振
9.4 光泵磁共振
9.5 核磁共振成像實驗
單元10 計算機模擬和微弱信號檢測技術(shù)
10.1 計算機數(shù)值模擬實驗
10.2 鎖相放大器實驗
10.3 信號取樣平均實驗
10.4 單光子計數(shù)實驗
附表
Ⅰ 中華人民共和國法定計量單位
Ⅱ 物理學常量表
Ⅲ 標準正態(tài)分布函數(shù)N(x；0，1)數(shù)值表
Ⅳ t分布的置信系數(shù)tξ數(shù)值表
Ⅴ x2分布的x2ξ(v)數(shù)值表