本書系統(tǒng)介紹數(shù)字系統(tǒng)測試的理論和方法，深入探討測試生成、故障模型、故障模擬、可測試性設計、內建自測試等主題，包括該領域的最新進展，并提供大量支持實踐應用的理論資料。本書共分15章，前8章主要介紹基礎的測試理論和方法，包括數(shù)字系統(tǒng)、數(shù)字微系統(tǒng)芯片缺陷的來源、邏輯描述的方法、故障建模、故障模擬、測試單固定型故障、測試橋接故障、智能數(shù)字系統(tǒng)的功能測試及其范圍；第9～11章主要介紹數(shù)字系統(tǒng)的可測試性設計、內建自測試、測試數(shù)據(jù)壓縮等現(xiàn)代測試理論和方法；第12～15章主要討論一些高級測試理論和方法，包括邏輯級與系統(tǒng)級診斷、自校驗設計和可編程邏輯陣列測試。 .本書可作為電路CAD技術人員、芯片和系統(tǒng)設計者以及測試工程師的參考資料，也可作為高等院校相關專業(yè)高年級本科生或研究生的教材。...
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