現(xiàn)代測試技術

第一章測量技術基礎
1.1測量誤差理論
l.1.1測量過程
1.1.2測量值的數(shù)學期望和方差
1.1.3隨機誤差的統(tǒng)計處理
1.1.4標準偏差的傳遞
1.1.5有限次測量的算術平均值及其方差
1.1.6測量結果的置信概率
1.1.7異常數(shù)據(jù)的剔除
1.1.8測量不確定度的表征方法
1.2測量信息論基礎
1.2.1測量信息論的原理
1.2.2用誤差嫡計算不確定度
1.2.3采用最大信息嫡原理估計誤差概率分布
1.3測量過程的統(tǒng)計控制
1.3.1基本概念
13.2測量過程的統(tǒng)計控制參數(shù)
1.3.3測量過程統(tǒng)計控制的檢驗方法
1.4校準方法學
1.4.1校準方法
l.4.2計量標準
1.4.3校準類型
1.4.4校準的要求
1.4.5互檢和檢驗
1.4.6儀器特性和校準測試
1.4.7對校準標準的要求
1.5基本的電子標準
1.5.1國際測量單位制
1.5.2標準的可溯源性

第二章測試儀器平臺
2.1測試儀器平臺的基本結構
2.1.1基本概念
2.1.2測試儀器的信息流程
2.1.3測試儀器平臺的結構
2.2傳感器
2.2.1傳感器的通用結構
2.2.2傳感器的分類及轉(zhuǎn)換原理
2.2.3傳感器的主要技術指標
2.3模數(shù)轉(zhuǎn)換器.
2.3.1模數(shù)轉(zhuǎn)換器的基本概念
2.3.2模數(shù)轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)誤差和測試
2.3.3模數(shù)轉(zhuǎn)換器的動態(tài)誤差和測試
2.4測試信號的處理
2.4.1基本概念.
2.4.2傅里葉變換,
2.4.3離散傅里葉變換
2.4.4窗口化
2.4.5模擬濾波器
2.4.6數(shù)字濾波器
2.4.7混頻
2.4.8檢波和解調(diào)技術
2.4.9衰減和放大
2.4.10測試結果的類型
2.4.11信號處理硬件
2.5測試儀器中的微處理器
2.5.1微處理器在儀器中的作用
2.5.2微處理器在儀器中的工作
2.5.3測試儀器的硬件結構
2.5.4儀器軟件的編程
2.5.5儀器固件的開發(fā)
2.5.6人機界面
2.5.7校準和誤差修正

第三章基本電參量測量
3.1電壓.電流和電阻測量儀器
3.1.1引言
3.1.2數(shù)字多用表
3.1.3直流電壓測量技術
3.1.4交流電壓測量技術
3.1.5電流測量技術
3.1.6電阻測量技術
3.1.7測量誤差源
3.1.8電壓表的技術指標
3.2示波器
3.2.1引言
3.2.2通用示波器
3.2.3垂直放大器
3.2.4水平控制（時基）與觸發(fā)
3.2.5模擬示波器
3.2.6數(shù)字示波器
3.2.7示波器的探頭
3.3功率測量
3.3.1概述
3.3.2基本的功率定義
3.3.3傳送類功率測量
3.3.4接收類功率測量
3.3.5熱敏電阻傳感器及相應功率計
3.3.6熱偶式功率計
3.3.7二極管功率傳感器
3.3.8峰值功率測量
3.3.9多反射的影響
3.3.10指標
3.3.11校準

第四章信號的產(chǎn)生與分析
4.1信號源
4.1.1信號的表征與生成方法
4.1.2通用信號發(fā)生器
4.1.3任意波形合成器
4.1.4微波信號的生成方法
4.2固態(tài)微波信號源
4.3頻譜分析儀
4.3.1概述.
4.3.2頻譜儀的工作特性.
4.3.3現(xiàn)代頻譜分析儀的設計
4.3.4頻譜儀的附件.
4.4相位噪聲測量與儀器
4.4.1為什么需要測量相位噪聲
4.4.2相位噪聲的定義和表示
4.4.3相位噪聲的時域測量方法
4.4.4相位噪聲的頻域測量法
4.4.5相位噪聲的測量與分析
4.4.6微波信號源相位噪聲的測量
4.4.7各種相位噪聲測試系統(tǒng)測試靈敏度的對比

第五章時間與頻率測量
5.1概述
5.1.1時間與頻率的數(shù)字化測量
5.1.2時間與頻率測量儀器
5.2電子計數(shù)器的原理與組成
5.2.1基本計數(shù)器
5.2.2倒數(shù)計數(shù)器
5.2.3連續(xù)計數(shù)器
5.2.4微波計數(shù)器
5.2.5脈沖微波計數(shù)器
5.3電子計數(shù)器的主要技術特性
5.3.l通用計數(shù)器的技術特性
5.3.2微波計數(shù)器的技術特性
5.4時間與頻率間隔分析儀
5.4.1概述
5.4.2原理與組成
5.4.3主要技術特性
5.4.4FTIA的應用
5.5時間與頻率標準
5.5.1概述
5.5.2石英晶體振蕩器
5.5.3原子頻率標準
5.5.4銫C原子頻標
5.5.5鉚泡原子頻標
5.5.6氫頻率標準和氫脈澤

第六章電路元器件的測試
6.1阻抗測試的原理及儀器
6.1.1阻抗測試技術和誤差分析
6.1.2連接和隔離
6.1.3阻抗測試儀器（RLC）
6.2半導體測試
6.2.1曲線記錄儀
6.2.2源監(jiān)控器（SMU）
6.2.3數(shù)字插頭電子（PE）儀器
6.2.4半導體測試系統(tǒng)
6.3網(wǎng)絡分析儀
6.3.1網(wǎng)絡特性.
6.3.2網(wǎng)絡分析系統(tǒng)和精度分析
6.3.3標量網(wǎng)絡分析儀
6.3.4矢量網(wǎng)絡分析儀
6.4微波無源器件
6.4.1同軸傳輸線及同軸無緣器件
6.4.2平行平面?zhèn)鬏斁€及平行平面無源器件
6.4.3波導及波導無源器件

第七章光電子測試
7.1光信號的產(chǎn)生及分析
7.1.1光信號源
7.1.2光功率計
7.1.3光信號分析儀
7.1.4光譜分析儀
7.1.5光波偏振分析儀
7.2光學元件分析儀
7.2.1調(diào)制域元件分析儀
7.2.2波長城元件分析儀
7.2.3基于反射的元件分析儀
7.3光學時域反射計
7.3.1光學時域反射計原理
7.3.2光學時域反射計的技術指標
7.3.3光學時域反射計的應用

第八章數(shù)據(jù)域測試
8.1數(shù)據(jù)域測試的概念
8.1.1數(shù)據(jù)域測試的重要性
8.1.2數(shù)據(jù)域測試的基本理論及方法簡述
8.2數(shù)字信號發(fā)生器
8.2.1數(shù)字信號發(fā)生器的作用
8.2.2數(shù)字信號發(fā)生器的結構
8.2.3數(shù)據(jù)的產(chǎn)生
8.2.4數(shù)據(jù)流的特征
8.2.5數(shù)字信號發(fā)生器的主要技術指標
8.3邏輯分析儀
8.3.1邏輯分析儀的基本組成
8.3.2數(shù)據(jù)的捕獲與觸發(fā)跟蹤
8.3.3數(shù)據(jù)流的高速存儲
8.3.4數(shù)據(jù)的建立時間和保持時間
8.3.5數(shù)據(jù)的顯示
8.3.6邏輯分析儀的主要特點及技術指標
8.3.7數(shù)字測試系統(tǒng)
8.4規(guī)約分析儀
8.4.1概述
8.4.2通信規(guī)約的結構
8.4.3通信規(guī)約舉例
8.4.4基本結構及操作
8.4.5規(guī)約分析儀的性能指標
8.5誤碼率測試儀
8.5.1基本概念
8.5.2誤碼源
8.5.3誤碼測量
8.5.4誤碼率測試儀的結構
8.5.5誤碼率測試儀的技術指標
8.6可測性設計
8.6.1可測性的測度
8.6.2可測性的改善設計
8.6.3結構可測性設計
8.6.4邊緣掃描測試

第九章計算機輔助測試（CAT）平臺
9.1基本概念
9.1.1CAT平臺
9.1.2CAT平臺的基本結構
9.1.3程控儀器及接口
9.1.4CAT控制器
9.1.5軟件系統(tǒng)
9.2GPIB接口
9.2.1GPIB的發(fā)展歷史
9.2.2GPIB系統(tǒng)的基本結構
9.2.3GPIB總線信號
9.2.4GPIB接口功能
9.2.5GPIB總線接口消息
9.2.6電氣與機械特性
9.2.7GPIB控制器.
9.2.8GPIB測試編程語言
9.3VXlbtiS系統(tǒng)
9.3.1模塊化儀器的標準化
9.3.2機械結構
9.3.3VXI總線信號
9.3.4VXI器件
9.3.5VXI總線系統(tǒng)的通信協(xié)議
9.3.6VXI測試系統(tǒng)
9.4儀器的程控
9.4.1器件數(shù)據(jù)的標準化
9.4.2IEEE488.2標準
9.4.3可程控儀器標準命令SCPI
9.5CAT平臺
9.5.1虛擬儀器
9.5.2儀器驅(qū)動器
9.5.3可視化測試編程環(huán)境
9.5.4開關器件
9.5.5網(wǎng)絡連接技術
9.5.6CAT平臺實例
習題和思考題
第一章習題和思考題
第二章習題和思考題
第三章習題和思考題
第四章習題和思考題
第五章習題和思考題
第六章習題和思考題
第七章習題和思考題
第八章習題和思考題
第九章習題與思考題
參考文獻