第一章 實驗準備
第二章 基礎實驗
2.1 TTL集成邏輯門的參數(shù)測試
2.2 CMOS集成邏輯門的參數(shù)測試
2.3 TTL門電路的邏輯變換
2.4 TTL集電極開路門(OC)與三態(tài)門(3S)的測試與應用
2.5 集成邏輯電路的連接和驅動
2.6 組合邏輯電路的設計
2.7 半加器、合加器及其應用
2.8 數(shù)據(jù)選擇器及其應用
2.9 譯碼器、編碼器及其應用
2.10 數(shù)值比較器及其應用
2.11 基本觸發(fā)器的功能測試
2.12 基本觸發(fā)器的應用
2.13 移位寄存器及其應用
2.14 計數(shù)器及其應用
2.15 同步時序電路的設計
2.16 TTL門組成的脈沖電路
2.17 集成脈沖電路及其應用
2.18 555定時器及其應用
2.19 A/D和D/A轉換器
第三章 綜合實驗
3.1 數(shù)字鐘
3.2 電子秒表
3.3 串行加法器
3.4 動態(tài)掃描鍵盤編碼器
3.5 彩燈控制電路
3.6 脈沖分配器及其應用
3.7 數(shù)字頻率計
3.8 3.5位直流數(shù)字電壓表的組裝與調試
第四章 Altera可編程邏輯器件及AMX+PLUSⅡ開發(fā)工具
4.1 Altera可編程邏輯器件
4.2 MAX+PLUSⅡ開發(fā)工具
4.3 VHDL硬件描述語言
4.4 設計實例——電子鐘
附錄
附錄1 半導體集成電路型號命名方法
附錄2 數(shù)字集成電路的型號組成
附錄3 部分集成電路引腳排列
參考文獻