系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證

第1章 緒論                  
 1.1 故障. 診斷與測(cè)試性基本概念                  
 1.1.1 故障及其后果                  
 1.1.1.1 故障定義和分類(lèi)                  
 1.1.1.2 故障影響后果                  
 1.1.2 故障診斷                  
 1.1.2.1 故障診斷的概念                  
 1.1.2.2 故障診斷研究?jī)?nèi)容                  
 1.1.3 測(cè)試性和機(jī)內(nèi)測(cè)試                  
 1.1.3.1 測(cè)試性. 固有測(cè)試性和兼容性                  
 1.1.3.2 機(jī)內(nèi)測(cè)試／機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)備                  
 1.1.4 綜合診斷                  
 1.2 測(cè)試性及診斷技術(shù)的發(fā)展                  
 1.2.1 由外部測(cè)試到機(jī)內(nèi)測(cè)試                  
 1.2.2 測(cè)試性成為一門(mén)獨(dú)立的學(xué)科                  
 1.2.3 綜合診斷. 人工智能及CAD的應(yīng)用                  
 1.2.4 國(guó)內(nèi)測(cè)試性發(fā)展現(xiàn)狀                  
 1.3 測(cè)試性. BIT對(duì)系統(tǒng)的影響                  
 1.3.1 對(duì)維修性的影響                  
 1.3.2 對(duì)可靠性的影響                  
 1.3.2.1 對(duì)基本可靠性影響                  
 1.3.2.2 對(duì)任務(wù)可靠性影響                  
 1.3.3 對(duì)可用性和戰(zhàn)備完好性影響                  
 1.3.4 對(duì)壽命周期費(fèi)用影響                  
 1.3.5 測(cè)試性／BIT影響分析實(shí)例                  
 1.4 常用測(cè)試性與診斷術(shù)語(yǔ)                  
 習(xí)題                  
                   
 第2章 測(cè)試性和診斷參數(shù)                  
 2.1 概述                  
 2.2 參數(shù)定義及說(shuō)明                  
 2.2.1 故障檢測(cè)率（FDR）                  
 2.2.1.1 FDR定義                  
 2.2.1.2 關(guān)于FDR定義的幾點(diǎn)說(shuō)明                  
 2.2.2 關(guān)鍵故障檢測(cè)率（CFRR）                  
 2.2.3 故障隔離率（FIR）                  
 2.2.3.1 FIR定義                  
 2.2.3.2 關(guān)于FIR定義的幾點(diǎn)說(shuō)明                  
 2.2.4 虛警率（FAR）                  
 2.2.4.1 FAR定義                  
 2.2.4.2 關(guān)于FAR定義的幾點(diǎn)說(shuō)明                  
 2.2.5 故障檢測(cè)時(shí)間（FDT）                  
 2.2.6 故障隔離時(shí)間（FIT）                  
 2.2.7 系統(tǒng)的FDR和FIR                  
 2.2.8 不能復(fù)現(xiàn)（CND）率                  
 2.2.9 臺(tái)檢可工作（BCS）率                  
 2.2.10 重測(cè)合格（RTOK）率                  
 2.2.11 誤拆率（FFP）                  
 2.2.12 BIT／ETE可靠性                  
 2.2.13 BIT／ETE維修性                  
 2.2.14 BIT／ETE平均運(yùn)行時(shí)間                  
 2.2.15 虛警. CND及RTOK關(guān)系                  
 習(xí)題                  
                   
 第3章 測(cè)試性設(shè)計(jì)與管理工作概述                  
 3.1 測(cè)試性工作項(xiàng)目及說(shuō)明                  
 3.1.1 測(cè)試性工作項(xiàng)目                  
 3.1.2 測(cè)試性工作項(xiàng)目說(shuō)明                  
 3.1.2.1 制定測(cè)試性工作計(jì)劃                  
 3.1.2.2 測(cè)試性評(píng)審                  
 3.1.2.3 制定測(cè)試性數(shù)據(jù)收集與分析計(jì)劃                  
 3.1.2.4 診斷方案和測(cè)試性要求                  
 3.1.2.5 測(cè)試性初步設(shè)計(jì)與分析                  
 3.1.2.6 測(cè)試性詳細(xì)設(shè)計(jì)與分析                  
 3.1.2.7 測(cè)試性驗(yàn)證                  
 3.1.3 測(cè)試性與其他專(zhuān)業(yè)工程的接口                  
 3.2 復(fù)雜系統(tǒng)各研制階段的測(cè)試性工作                  
 3.2.1 要求和指標(biāo)論證階段                  
 3.2.2 方案論證和確定階段                  
 3.2.3 工程研制階段                  
 3.2.4 生產(chǎn)和使用階段                  
 3.3 測(cè)試性設(shè)計(jì)的目標(biāo)和內(nèi)容                  
 3.3.1 設(shè)計(jì)目標(biāo)                  
 3.3.2 設(shè)計(jì)內(nèi)容                  
 3.4 測(cè)試性設(shè)計(jì)工作流程                  
 3.4.1 各研制階段測(cè)試性工作流程                  
 3.4.2 與系統(tǒng)功能和特性設(shè)計(jì)并行的測(cè)試性設(shè)計(jì)流程                  
 3.4.3 多級(jí)測(cè)試性設(shè)計(jì)流程                  
 3.4.4 UUT測(cè)試性／診斷設(shè)計(jì)流程                  
 3.5 測(cè)試性設(shè)計(jì)工作的評(píng)價(jià)與度量                  
 3.5.1 測(cè)試性設(shè)計(jì)分析報(bào)告                  
 3.5.2 測(cè)試性/診斷有效性評(píng)價(jià)                  
 3.5.3 產(chǎn)品對(duì)使用要求的符合性評(píng)價(jià)                  
 習(xí)題                  
                   
 第4章 測(cè)試性與診斷要求                  
 4.1 概述                  
 4.2 確定測(cè)試性與診斷要求依據(jù)分析                  
 4.2.1 任務(wù)要求分析                  
 4.2.2 系統(tǒng)構(gòu)成特性分析                  
 4.2.3 使用和保障要求分析                  
 4.2.4 可用新技術(shù)分析                  
 4.3 測(cè)試性與診斷要求內(nèi)容                  
 4.3.1 嵌入式診斷要求                  
 4.3.2 外部診斷要求                  
 4.3.2.1 基層級(jí)診斷要求                  
 4.3.2.2 中繼級(jí)診斷要求                  
 4.3.2.3 基地級(jí)診斷要求                  
 4.3.3 測(cè)試性與診斷定性要求                  
 4.3.3 測(cè)試性與診斷定量要求                  
 4.4 系統(tǒng)和產(chǎn)品的測(cè)試性要求                  
 4.4.1 系統(tǒng)測(cè)試性要求                  
 4.4.2 產(chǎn)品測(cè)試性要求                  
 4.5 確定測(cè)試性指標(biāo)的程序和方法                  
 4.5.1 確定測(cè)試性要求的程序                  
 4.5.2 測(cè)試性參數(shù)的選擇                  
 4.5.3 測(cè)試性與可靠性. 維修性之間的權(quán)衡分析                  
 4.5.4 用類(lèi)比法確定測(cè)試性指標(biāo)                  
 4.5.5 初定指標(biāo)的分析檢驗(yàn)                  
 4.6 診斷指示正確性和BIT影響分析                  
 4.6.1 BIT對(duì)可靠性影響分析                  
 4.6.2 BIT對(duì)維修性影響分析                  
 4.6.3 診斷指示正確性分析                  
 4.6.3.1 診斷結(jié)果的指示                  
 4.6.3.2 給出正確指示的概率                  
 4.6.3.3 影響正確指示因素分析                  
 4.6.3.4 合理確定診斷要求                  
 4.7 測(cè)試性規(guī)范示例                  
 4.7.1 系統(tǒng)初步測(cè)試性規(guī)范                  
 4.7.2 系統(tǒng)測(cè)試性規(guī)范                  
 4.7.3 CI測(cè)試性規(guī)范                  
 習(xí)題                  
                   
 第5章 故障診斷方案                  
 5.1 診斷方案的制定程序                  
 5.2 候選診斷方案                   
 5.2.1 確定診斷方案的依據(jù)                  
 5.2.2 診斷方案組成要素                  
 5.2.3 候選診斷方案的確定                  
 5.3 最佳診斷方案的選擇                  
 5.4 權(quán)衡分析                  
 5.4.1 定性權(quán)衡分析                  
 5.4.1.1 BIT與ATE/ETE的權(quán)衡                  
 5.4.1.2 BIT模式的權(quán)衡                  
 5.4.1.3 人工測(cè)試設(shè)備與ATE的權(quán)衡                  
 5.4.2 定量權(quán)衡分析                  
 5.4.2.1 人工測(cè)試與自動(dòng)測(cè)試的權(quán)衡                  
 5.4.2.2 BIT與ATE的權(quán)衡                  
 5.4.2.3 硬件與軟件BITE的權(quán)衡                  
 5.5 費(fèi)用分析                  
 5.5.1 故障診斷子系統(tǒng)費(fèi)用模型                  
 5.5.2 BIT壽命周期費(fèi)用權(quán)衡模型                  
 5.5.3 簡(jiǎn)單費(fèi)用分析舉例                  
 習(xí)題                  
                   
 第6章 測(cè)試性與診斷要求分配                  
 6.1 概述                  
 6.1.1 測(cè)試性分配的指標(biāo)                  
 6.1.2 進(jìn)行測(cè)試性分配工作的時(shí)間                  
 6.1.3 測(cè)試性分配工作的輸入和輸出                  
 6.1.4 測(cè)試性分配模型和要求                  
 6.2 等值分配法和經(jīng)驗(yàn)分配法                  
 6.2.1 等值分配法                  
 6.2.2 經(jīng)驗(yàn)分配法                  
 6.3 按系統(tǒng)組成單元故障率分配法                  
 6.4 加權(quán)分配法                  
 6.5 綜合加權(quán)分配法                  
 6.5.1 測(cè)試分配模型和工作程序                  
 6.5.2 綜合加權(quán)分配方法                  
 6.5.3 只考慮復(fù)雜度時(shí)的分配方法                  
 6.5.4 只考慮重要度時(shí)的分配方法                  
 6.6 有部分老品時(shí)的分配方法                  
 6.7 優(yōu)化分配方法                  
 6.7.1 優(yōu)化分配的數(shù)學(xué)模型                  
 6.7.2 解法介紹                  
 6.7.3 算法及步驟                  
 6.7.4 目標(biāo)函數(shù)和約束函數(shù)的選擇                  
 6.7.5 應(yīng)用舉例                  
 習(xí)題                  
                   
 第7章 固有測(cè)試性設(shè)計(jì)與評(píng)價(jià)                  
 7.1 固有測(cè)試性設(shè)計(jì)                  
 7.1.1 劃分                  
 7.1.2 功能和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)                  
 7.1.3 初始化                  
 7.1.4 測(cè)試控制(可控性)                  
 7.1.5 測(cè)試觀測(cè)(可觀性)                  
 7.1.6 元器件選擇                  
 7.1.7 其他                  
 7.2 測(cè)試性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則                  
 7.2.1 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)                  
 7.2.2 劃分                  
 7.2.3 測(cè)試控制                  
 7.2.4 測(cè)試通路                  
 7.2.5 元器件選擇                  
 7.2.6 模擬電路設(shè)計(jì)                  
 7.2.7 LSI和微處理機(jī)                  
 7.2.8 射頻(RF)電路設(shè)計(jì)                  
 7.2.9 光電(EO)設(shè)備設(shè)計(jì)                  
 7.2.10 數(shù)字電路設(shè)計(jì)                  
 7.2.11 機(jī)內(nèi)測(cè)試(BIT)                  
 7.2.12 性能監(jiān)控                  
 7.2.13 機(jī)械系統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)控                  
 7.2.14 診斷能力綜合                  
 7.2.15 測(cè)試要求                  
 7.2.16 測(cè)試數(shù)據(jù)                  
 7.2.17 測(cè)試點(diǎn)                  
 7.2.18 傳感器                  
 7.2.19 指示器                  
 7.2.20 連接器                  
 7.2.21 兼容性                  
 7.3 固有測(cè)試性評(píng)價(jià)                  
 7.3.1 通用設(shè)計(jì)準(zhǔn)剪裁原則                  
 7.3.2 簡(jiǎn)單分析評(píng)價(jià)方法                  
 7.3.3 加權(quán)評(píng)分法                  
 7.4 印制電路板測(cè)試性評(píng)價(jià)方法                  
 7.4.1 方法概述                  
 7.4.2 測(cè)試性評(píng)價(jià)因素及其評(píng)分                  
 習(xí)題                  
                    
 第8章 測(cè)試點(diǎn)與診斷策略                  
 8.1 簡(jiǎn)單UUT的測(cè)試點(diǎn)和診斷策略                  
 8.1.1 依據(jù)已知數(shù)據(jù)確定診斷策略                  
 8.1.2 依據(jù)UUT構(gòu)型確定診斷策略                  
 8.2 復(fù)雜系統(tǒng)的診斷策略                  
 8.2.1 分層測(cè)試策略                  
 8.2.2 UUT測(cè)試點(diǎn)和優(yōu)化測(cè)試順序                  
 8.2.3 復(fù)雜系統(tǒng)診斷的基本原理                  
 8.3 基于相關(guān)性模型的診斷方法                  
 8.3.1 有關(guān)假設(shè)和定義                  
 8.3.2 相關(guān)性建模                  
 8.3.2.1 相關(guān)性圖示模型                  
 8.3.2.2 相關(guān)性數(shù)學(xué)模型                  
 8.3.3 優(yōu)選測(cè)試點(diǎn)制定診斷策略                  
 8.3.3.1 簡(jiǎn)化矩陣優(yōu)選測(cè)試點(diǎn)                  
 8.3.3.2 制定診斷策略                  
 8.3.3.4 結(jié)果分析                  
 8.3.3.5 故障字典                  
 8.3.4 考慮可靠性和費(fèi)用的影響                  
 8.3.4.1 可靠性影響                  
 8.3.4.2 費(fèi)用影響                  
 8.3.5 應(yīng)用舉例                  
 8.3.5.1 例一                  
 8.3.5.2 例二                  
 8.3.6 基于相關(guān)性的診斷方法小結(jié)                  
 8.3.6.1 工作流程                  
 8.3.6.1 結(jié)果的應(yīng)用                  
 8.4 最少測(cè)試費(fèi)用診斷策略設(shè)計(jì)                  
 8.4.1 診斷樹(shù)費(fèi)用分析方法                  
 8.4.2 診斷子集費(fèi)用優(yōu)選方法                  
 8.4.3 有用診斷子集分析方法                  
 8.4.4 有用診斷子集分析示例                  
 8.5 基于故障樹(shù)分析的故障診斷方法                   
 8.5.1 故障樹(shù)分析                  
 8.5.2 利用FTA確定測(cè)試順序                  
 8.5.3 舉例                  
 習(xí)題                   
 第9章 測(cè)試性. BIT設(shè)計(jì)技術(shù)                  
 9.1 系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)                  
 9.1.1 系統(tǒng)測(cè)試性頂層設(shè)計(jì)                  
 9.1.2 系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)指南                  
 9.2 系統(tǒng)BIT設(shè)計(jì)                  
 9.2.1 系統(tǒng)BIT頂層設(shè)計(jì)                  
 9.2.1.1 確定系統(tǒng)BIT功能特性                  
 9.2.1.2 確定系統(tǒng)BIT工作模式和類(lèi)型                  
 9.2.1.3 確定BIT測(cè)試產(chǎn)品等級(jí)和測(cè)試程度                  
 9.2.1.4 系統(tǒng)BIT/BITE軟件和硬件的權(quán)衡                  
 9.2.1.5 聯(lián)機(jī)BIT與脫機(jī)BIT權(quán)衡                  
 9.2.1.6 設(shè)計(jì)合理的系統(tǒng)BIT配置方案                  
 9.2.2 系統(tǒng)BIT設(shè)計(jì)指南                  
 9.3 常用BIT設(shè)計(jì)技術(shù)                  
 9.3.1 數(shù)字BIT技術(shù)                  
 9.3.1.1 板內(nèi)ROM式BIT                  
 9.3.1.2 微處理器BIT                  
 9.3.1.3 微診斷法                  
 9.3.1.4 內(nèi)置邏輯塊觀測(cè)器法                  
 9.3.1.5 錯(cuò)誤檢測(cè)與校正碼(EDCC)方法                  
 9.3.1.6 掃描通路BIT                  
 9.3.1.7 邊界掃描BIT                  
 9.3.1.8 隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的測(cè)試                  
 9.3.1.9 只讀存儲(chǔ)器的測(cè)試                  
 9.3.1.10 定時(shí)器監(jiān)控測(cè)試                  
 9.3.2 模擬BIT技術(shù)                  
 9.3.2.1 比較器BIT                  
 9.3.2.2 電壓求和BIT                  
 9.3.3 環(huán)繞BIT技術(shù)                  
 9.3.3.1 數(shù)字環(huán)繞BIT                  
 9.3.3.2 模擬/數(shù)字混合環(huán)繞BIT                  
 9.3.4 冗余BIT技術(shù)                  
 9.3.4.1 冗余電路BIT                  
 9.3.4.2 余度系統(tǒng)BIT                  
 9.3.5 動(dòng)態(tài)部件BIT技術(shù)                  
 9.3.5.1 在線比較監(jiān)控BIT                  
 9.3.5.2 模型比較監(jiān)控BIT                  
 9.3.6 功能單元BIT實(shí)例                  
 9.3.6.1 感應(yīng)式位置傳感器的BIT                  
 9.3.6.2 某型雷達(dá)預(yù)處理器的BIT                  
 9.3.6.3 某型信號(hào)控制設(shè)備的BIT                  
 9.3.6.4 某型視頻選擇模塊的BIT                  
 9.4 測(cè)試點(diǎn)的選擇與設(shè)置                  
 9.4.1 測(cè)試點(diǎn)類(lèi)型                  
 9.4.2 測(cè)試點(diǎn)要求                  
 9.4.3 測(cè)試點(diǎn)選擇                  
 9.4.4 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置舉例                  
 9.5 測(cè)試性設(shè)計(jì)應(yīng)注意的問(wèn)題                  
 9.5.1 可靠性分析是測(cè)試性設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)                  
 9.5.2 確定合理的測(cè)試容差                  
 9.5.3 采取必要的防止虛警措施                  
 9.5.4 注意測(cè)試性增長(zhǎng)工作                  
 習(xí)題                  
                   
 第10章 BIT虛警問(wèn)題及降低虛警率方法                  
 10.1 BIT虛警問(wèn)題                  
 10.1.1 關(guān)于虛警和虛警率的定義                  
 10.1.1.1 關(guān)于虛警定義                  
 10.1.1.2 關(guān)于虛警率定義                  
 10.1.2 已服役系統(tǒng)的虛警狀況                  
 10.1.2.1 系統(tǒng)I的虛警情況                  
 10.1.2.2 系統(tǒng)II的虛警情況                  
 10.1.2.3 其他系統(tǒng)情況                  
 10.1.3 國(guó)內(nèi)虛警問(wèn)題現(xiàn)狀                  
 10.2 BIT虛警的影響                  
 10.2.1 虛警對(duì)BIT有效性的影響                  
 10.2.2 虛警對(duì)系統(tǒng)完成任務(wù)的影響                  
 10.2.3 虛警對(duì)系統(tǒng)可靠性. 維修性的影響                  
 10.2.4 虛警對(duì)系統(tǒng)備件的影響                  
 10.3 產(chǎn)生虛警的原因                  
 10.3.1 虛警原因綜述                  
 10.3.2 I類(lèi)虛警的原因                  
 10.3.3 II類(lèi)虛警的原因                  
 10.3.3.1 雷達(dá)系統(tǒng)異常特性的原因                  
 103.3.2 系統(tǒng)I的虛警原因分析結(jié)果                  
 10.4 降低虛警率的方法                  
 10.4.1 確定合理的測(cè)試容差                  
 10.4.1.1 確定測(cè)試容差的方法                  
 10.4.1.2 延遲加入門(mén)限值                   
 10.4.1.3 自適應(yīng)門(mén)限值                  
 10.4.2 確定合理的故障指示. 報(bào)警條件                  
 10.4.2.1 重復(fù)測(cè)試不通過(guò)時(shí)才報(bào)警----重復(fù)測(cè)試方法                  
 10.4.2.2 n次測(cè)試中有m次不通過(guò)時(shí)才報(bào)警-------表決方法                  
 10.4.2.3 測(cè)試結(jié)果為不正確時(shí)延遲一定時(shí)間才報(bào)警------延時(shí)方法                  
 10.4.3 提高BIT工作的可靠性                  
 10.4.3.1 聯(lián)鎖條件                  
 10.4.3.2 BIT檢驗(yàn)                  
 10.4.3.3 重疊BIT方法                  
 10.4.4 環(huán)境應(yīng)力的測(cè)量與應(yīng)用                  
 10.4.4.1 TSMD故障記錄系統(tǒng)                  
 10.4.4.2 智能BIT和應(yīng)力測(cè)量(iBITSM)                  
 10.4.5 靈巧BIT----人工智能技術(shù)的應(yīng)用                  
 10.4.5.1 概述                  
 10.4.5.2 自適應(yīng)BIT                  
 10.4.5.3 暫存監(jiān)控BIT                  
 10.4.6 靈巧BIT與TSMD綜合系統(tǒng)                  
 10.4.7 其他方法                  
 10.4.7.1 分布式BIT                  
 10.4.7.2 設(shè)計(jì)指南                  
 10.4.7.3 虛警率預(yù)計(jì)                  
 10.4.7.4 試驗(yàn)分析改進(jìn)                  
 10.5 降低虛警率方法總結(jié)                  
 習(xí)題                  
                   
 第11章 系統(tǒng)測(cè)試性與診斷的外部接口                  
 11.1 BIT信息顯示與輸出                  
 11.1.1 BIT測(cè)試能力和BIT信息內(nèi)容                  
 11.1.2 通過(guò)指示器. 顯示板輸出信息                  
 11.1.3 通過(guò)BIT讀出器. 維修監(jiān)控板. 顯示器輸出信息                  
 11.1.4 通過(guò)中央維修系統(tǒng)/監(jiān)控系統(tǒng)輸出BIT信息                  
 11.1.4.1 B747-400飛機(jī)中央維修計(jì)算機(jī)系統(tǒng)                  
 11.1.4.2 A320飛機(jī)綜合監(jiān)控系統(tǒng)                  
 11.1.5 通過(guò)打印機(jī). 磁帶. ACARS輸出BIT信息                  
 11.1.6 利用外部測(cè)試設(shè)備輸出/采集BIT信息                  
 11.2 UUT與ATE的兼容性                  
 11.2.1 兼容性一般要求                  
 11.2.2 兼容性詳細(xì)要求                  
 11.2.2.1 UUT外部測(cè)試特性                  
 11.2.2.2 UUT外部測(cè)試點(diǎn)                  
 11.2.2.3 UUT測(cè)試文件                  
 11.2.3 兼容性偏離的處理                  
 11.2.4 兼容性評(píng)價(jià)                  
 11.2.4.1 評(píng)價(jià)步驟                  
 11.2.4.2 評(píng)價(jià)內(nèi)容和方法                  
 11.2.5 兼容性驗(yàn)證                  
 11.3 測(cè)試程序及接口裝置                  
 11.3.1 TPS要求                  
 11.3.1.1 一般要求                  
 11.3.1.2 詳細(xì)要求                  
 11.3.2 TPS研制                  
 習(xí)題                  
                   
 第12章 測(cè)試性預(yù)計(jì)                  
 12.1 概述                  
 12.1.1 測(cè)試性預(yù)計(jì)的目的和參數(shù)                  
 12.1.2 進(jìn)行測(cè)試性預(yù)計(jì)工作的時(shí)機(jī)                  
 12.1.3 測(cè)試性預(yù)計(jì)工作的輸入和輸出                  
 12.2 工程常用預(yù)計(jì)方法                  
 12.2.1 BIT預(yù)計(jì)                  
 12.2.2 系統(tǒng)測(cè)試性預(yù)計(jì)                  
 12.2.3 LRU測(cè)試性預(yù)計(jì)                  
 12.2.4 SRU測(cè)試性預(yù)計(jì)                  
 12.2.5 其他參數(shù)預(yù)計(jì)問(wèn)題                  
 12.3 概率方法                  
 12.3.1 常用方法存在的問(wèn)題和故障責(zé)任數(shù)據(jù)                  
 12.3.2 概率方法的簡(jiǎn)單例子                  
 12.3.3 更復(fù)雜的例子                  
 12.4 集合論方法                  
 12.4.1 專(zhuān)用測(cè)試的FDR                  
 12.4.2 重疊覆蓋的FDR                  
 12.4.3 重疊覆蓋的相交和不相交故障類(lèi)的FDR                  
 12.4.4 FIR的計(jì)算                  
 12.4.5 集合論方法小結(jié)                  
 習(xí)題                  
                   
 第13章 測(cè)試性驗(yàn)證與評(píng)價(jià)                  
 13.1 概述                  
 13.1.1 測(cè)試性驗(yàn)證試驗(yàn)                  
 13.1.2 測(cè)試性驗(yàn)證的內(nèi)容                  
 13.1.3 測(cè)試性驗(yàn)證試驗(yàn)與其他試驗(yàn)的關(guān)系                  
 13.1.4 測(cè)試性驗(yàn)證的時(shí)機(jī)和產(chǎn)品                  
 13.2 測(cè)試性驗(yàn)證的工作和程序                  
 13.2.1 測(cè)試性驗(yàn)證工作任務(wù)                  
 13.2.2 測(cè)試性驗(yàn)證工作程序                  
 13.3 測(cè)試性驗(yàn)證的技術(shù)準(zhǔn)備工作                  
 13.3.1 關(guān)于試驗(yàn)的樣本量                  
 13.3.2 故障影響及注入方法分析                  
 13.3.3 注入故障樣本的分配及抽樣                  
 13.3.4 驗(yàn)證的產(chǎn)品及測(cè)試設(shè)備                  
 13.4 測(cè)試性驗(yàn)證試驗(yàn)步驟及參數(shù)計(jì)算                  
 13.4.1 試驗(yàn)步驟                  
 13.4.2 參數(shù)計(jì)算                  
 13.4.3 接收或拒收的判定                  
 13.5 驗(yàn)證試驗(yàn)方案及結(jié)果判定                  
 13.5.1 成敗型定數(shù)試驗(yàn)方案                  
 13.5.2 最低可接受值試驗(yàn)方案                  
 13.5.3 成敗型截尾序貫試驗(yàn)方案                  
 13.5.4 近似試驗(yàn)方案及判據(jù)                  
 13.6 虛警率驗(yàn)證問(wèn)題                   
 13.6.1 數(shù)據(jù)來(lái)源                  
 13.6.2 按可靠性要求驗(yàn)證                  
 13.6.3 按成功率驗(yàn)證                  
 13.6.4 考慮雙方風(fēng)險(xiǎn)時(shí)的驗(yàn)證                  
 13.6.5 近似驗(yàn)證方法                  
 13.7 測(cè)試性參數(shù)估計(jì)                  
 13.7.1 點(diǎn)估計(jì)                  
 13.7.2 區(qū)間估計(jì)                  
 13.7.3 近似估計(jì)                  
 13.8 測(cè)試性綜合評(píng)價(jià)                  
 13.8.1 現(xiàn)有測(cè)試性驗(yàn)證方法的適用性                  
 13.8.2 三階段評(píng)定方法                  
 13.8.3 綜合分析評(píng)定                  
 習(xí)題                  
                   
 附表1二項(xiàng)分布單側(cè)置信下限                  
 附表2二項(xiàng)分布單側(cè)置信上限                  
 附表3成敗型可靠性的區(qū)間估計(jì)                  
 附表4 BIT信息表                  
 附表5 BIT信息統(tǒng)計(jì)匯總表                  
 常用縮寫(xiě)詞                  
 參考文獻(xiàn)