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試驗設(shè)計與分析及參數(shù)優(yōu)化

試驗設(shè)計與分析及參數(shù)優(yōu)化

定　價：￥69.00

作　者： （美）[吳建福]（C. F. Jeff Wu），（美） [邁克爾·哈曼蒂]（Michael Hamada）著；張潤楚等譯
出版社： 中國統(tǒng)計出版社
叢編項：
標　簽： 暫缺

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ISBN： 9787503740237 出版時間： 2003-01-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 577頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書從理論和應(yīng)用兩個角度深刻地闡述了試驗設(shè)計的基本原理和思想，全面系統(tǒng)介紹了試驗設(shè)計的一般理論和方法，包括各種設(shè)計的構(gòu)造和分析、建模理論和數(shù)據(jù)分析方法。

作者簡介

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