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半導體器件失效分析

半導體器件失效分析

定　價：￥8.10

作　者： 鄧永孝著
出版社： 宇航出版社
叢編項：
標　簽： 半導體器件
ISBN： 9787800343636 出版時間： 1991-04-01 包裝：
開本： 20cm 頁數(shù)： 297頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書介紹了半導體器件的失效機理，失效分析技術(shù)與程序，使用可靠性，失效分析實例等。

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