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幾何量公差與檢測(cè)

幾何量公差與檢測(cè)

定　價(jià)：￥29.80

作　者： 甘永立主編
出版社： 上海科學(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 機(jī)械元件
ISBN： 9787532357673 出版時(shí)間： 2001-01-01 包裝： 平裝
開(kāi)本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 288頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《幾何量公差與檢測(cè)》課程即《互換性與測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)》課程。本書(shū)共分緒論，幾何量測(cè)量基礎(chǔ)，孔、軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測(cè)，表面粗糙度及其檢測(cè)，滾動(dòng)軸承的公差與配合等。

作者簡(jiǎn)介

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